產品中心
PRODUCTS CNTER
相關文章
S-DSR探測器光譜響應測試系統 ? 寬光譜范圍（200~14000nm可選），適用面廣 ? 調制法測量技術，提升測量結果信噪比 ? 開機即用的Turnkey系統設計，維護簡單 ? 監視光路，方便樣品定位 ? 全反射光路設計，優化光斑質量 ? 高穩定性光源，降低背景噪聲影響 ? 標準測量軟件，數據導出格式支持第三方軟件
更新時間：2026-03-31
產品型號：S-DSR
瀏覽量：2956
光譜變溫附件/探針臺 THMS600 是使用.為廣泛的高精度冷熱臺。其寬泛的溫度范圍（-196°C到 600°C）和升溫速 率（0.1 到 150°C/min），以及高精度（全程 0.1°C）和高穩定（0.01°C），使其在各行業得 到廣泛的應用。
更新時間：2026-03-31產品型號：瀏覽量：2552
波銘科儀銷售的多種SERS增強試劑、SERS芯片，均是經過嚴格反復試驗、驗證、摸索制備而成，各項性能指標都很優 良，能滿足大多數生物分子、染料分子及其他分析物分子的拉曼檢測，穩定性高，拉曼增強效應強。
更新時間：2026-03-31產品型號：瀏覽量：2195
QE-2000熒光量子效率測試系統瞬間測量絕.對量子效率。適用于粉末、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低雜散光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區域 的雜散光。
更新時間：2026-03-31產品型號：QE-2000瀏覽量：2782
S-MPL系列顯微熒光成像系統 光致發光（photoluminescence）即PL，是用紫外、 可見或紅外輻射激發發光材料而產生的發光，在半 導體材料的發光特性測量應用中通常是用激光（波 長如325nm、532nm、785nm等）激發材料（如 GaN、ZnO、GaAs等）產生熒光，通過對其熒光光譜（即PL譜）的測量，分析該材料的光學特性，如禁帶寬 度等。
更新時間：2026-03-31產品型號：S-MPL系列瀏覽量：2616
組合熒光系統采用模塊化設計，既可實現穩態、瞬態測量，又能實現UV-VIS-MIR的寬范圍測 量。組合熒光系統多種部件可供選擇（光源、探測器、樣品架、變溫模塊等），能針對研究者實驗的不 同需求量身打造為合適的熒光光譜系統。
更新時間：2026-03-31產品型號：S-Fluo系列瀏覽量：2408公司郵箱： qgao@buybm.com
服務熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區疊橋路456弄創研智造C7區五樓
Copyright © 2026 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術支持：化工儀器網 管理登錄 sitemap.xml
關于我們
公司簡介 企業文化 榮譽資質 聯系我們快速通道
產品中心 新聞中心 技術文章 在線留言推薦產品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 RU120便攜式拉曼光譜儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統
當前位置：
產品分類