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ELSZ series的最zu高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實現測量粒子濃度測定、微流變學測定、凝膠的網狀結構分析。 全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發的對應高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環境下進行測量。
更新時間：2026-03-31
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●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進行分子量測量的檢測裝置。 ●適用于粒徑測量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）。
更新時間：2026-03-31產品型號：瀏覽量：1010
利用顯微微分光膜厚計OPTM series的高精度、微小光點，在線提供制作晶片圖案后的微小區域測量等膜厚信息。
更新時間：2026-03-31產品型號：瀏覽量：774
●Φ支持到300mmEFM單元備用端口的集成 ●實現嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對齊 ●支持半導體工藝的高吞吐量要求 ●支持槽口對齊功能 ●小尺寸規格 ●高精度自動校準單元
更新時間：2026-03-31產品型號：瀏覽量：876
半導體晶圓缺陷檢測儀利用亮場和暗場顯微成像技術，通過自動化的圖像捕捉以及人工智能分析工具，為晶圓表面缺陷的檢測提供了快速且高效的解決方案。
更新時間：2026-03-31產品型號：瀏覽量：11104
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。
更新時間：2026-03-31產品型號：ELSZ-2000系列瀏覽量：9521公司郵箱： qgao@buybm.com
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OPTM 系列顯微分光膜厚儀 RU120便攜式拉曼光譜儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統
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